儀器設備：X 射線衍射分析儀（日本） 

分析內容：X 射線衍射分析（XRD）物相定量分析、半定量分析、晶體結構掃描

適用領域：各種礦物、巖石礦石、粉末、薄膜、材料等。第三方專業XRD 測試機構。

主要服務科研院所，高等院校，企業等客戶。

檢測依據：

JY/T 009-1996《轉靶多晶體X射線衍射法通則》
SY/T 5163-2018 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物 X 射線衍射分析方法

檢測儀器：日本理學 D/MAX-2600 X光粉晶衍射儀

樣品實例：

頁巖礦物成分含量（XRD +分析）

黏土與非黏土礦物相對含量（%）：
方解石、白云山、石英、斜長石、鉀長石、黃鐵礦、菱鐵礦、黏土礦物
黏土礦物相對含量（%）：
高嶺石 、綠泥石、伊利石、伊/蒙間混層礦物

測試項目：

a. 常規廣角: 5--90°，小角：0.5--10°；
b. 常規測試速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角測試速率：1°/min, 0.5°/min
c. 該測試只得到樣品的XRD原始譜圖，不包括對數據的處理和分析。

測試結果給出的是RAW格式或txt格式測試結果。
文本格式文件可以用Search match分析軟件打開，origin軟件作圖；
RAW格式文件可以用jade分析軟件打開。

樣品要求：

1. 樣品狀態：可為粉末、塊狀、薄膜樣品、液體樣品可以涂在載玻片上干燥之后測試。
2. 粉末樣品：顆粒一般不超過75微米，手摸無顆粒感，較大需要適當研磨，樣品用量一般0.5g以上。
3. 塊狀、薄膜樣品：
（1）至少有一表面為平整光潔平面。
（2）若為立方體則平面長寬≤20mm，且厚度范圍50微米～15毫米；
（3）若為圓柱體則直徑≤20mm，高≤15mm。

X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題

（1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
（3）新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。
（4）產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。
（5）納米材料由于顆粒細小，極易形成團粒，采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。

采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。